圖片 | 產品名稱 | 產品參數 | 產品品牌 | 產品清單 |
上海儀電物光全自(zi)動比表麵積及(ji)孔(kong)隙度分析儀WBL-810 市場價:¥118000 |
比表麵積:0.0005㎡/g至無上限 孔(kong)径分析范围:3.5至5000埃 测验原理:低温氮物理吸附 (静态容量法) 吸附气体:氮气(默认)、氦(hai)气等非腐(fu)蚀(shi)性气体 |
上海儀電物光 | ||
上海儀電物光全自(zi)動比表麵積及(ji)孔(kong)隙度分析儀WBL-820 市場價:¥148000 |
比表麵積:0.0005㎡/g至無上限 孔(kong)径分析范围:3.5至5000埃 测验原理:低温氮物理吸附 (静态容量法) 吸附气体:氮气(默认)、氦(hai)气等非腐(fu)蚀(shi)性气体 |
上海儀電物光 | ||
上海儀電物光全自(zi)動比表麵積及(ji)孔(kong)隙度分析儀WBL-830 市場價:¥178000 |
比表麵積:0.0005㎡/g至無上限 孔(kong)径分析范围:3.5至5000埃 测验原理:低温氮物理吸附 (静态容量法) 吸附气体:氮气(默认)、氦(hai)气等非腐(fu)蚀(shi)性气体 |
上海儀電物光 |