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物性測試儀器

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上海仪电物光全自(zi)动比表面积及(ji)孔(kong)隙度分析仪WBL-810
上海儀電物光全自(zi)動比表麵積及(ji)孔(kong)隙度分析儀WBL-810

市場價:¥118000

比表麵積:0.0005㎡/g至無上限
孔(kong)径分析范围:3.5至5000埃
测验原理:低温氮物理吸附 (静态容量法)
吸附气体:氮气(默认)、氦(hai)气等非腐(fu)蚀(shi)性气体
上海儀電物光
上海仪电物光全自(zi)动比表面积及(ji)孔(kong)隙度分析仪WBL-820
上海儀電物光全自(zi)動比表麵積及(ji)孔(kong)隙度分析儀WBL-820

市場價:¥148000

比表麵積:0.0005㎡/g至無上限
孔(kong)径分析范围:3.5至5000埃
测验原理:低温氮物理吸附 (静态容量法)
吸附气体:氮气(默认)、氦(hai)气等非腐(fu)蚀(shi)性气体
上海儀電物光
上海仪电物光全自(zi)动比表面积及(ji)孔(kong)隙度分析仪WBL-830
上海儀電物光全自(zi)動比表麵積及(ji)孔(kong)隙度分析儀WBL-830

市場價:¥178000

比表麵積:0.0005㎡/g至無上限
孔(kong)径分析范围:3.5至5000埃
测验原理:低温氮物理吸附 (静态容量法)
吸附气体:氮气(默认)、氦(hai)气等非腐(fu)蚀(shi)性气体
上海儀電物光
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